衰減測(cè)量 

 

　　衰減測(cè)量，也稱第一級(jí)測(cè)量，用一個(gè)發(fā)射信號(hào)的大功率的校準(zhǔn)發(fā)生器和一個(gè)測(cè)量接收的光纖輻射測(cè)量?jī)x進(jìn)行。可以測(cè)量線路上的衰減并知道線路或某段線路是否在規(guī)定的公差里。這就是第一水平測(cè)量。在每次測(cè)量之前，都應(yīng)清洗所有的接插件。為了避免測(cè)量錯(cuò)誤，兩架儀器(發(fā)生器和接受器)應(yīng)當(dāng)使用同樣的測(cè)量電纜(如3米長(zhǎng))。這些電纜應(yīng)當(dāng)具有和所測(cè)光纖芯同樣的特點(diǎn)。 

 

　　測(cè)試可以用以下兩個(gè)方法進(jìn)行：一名測(cè)試人員進(jìn)行測(cè)試，兩架儀器放在同一個(gè)地方，但能與另一處形成回環(huán);兩名測(cè)試人員，兩個(gè)地方各放一架測(cè)試儀。所有測(cè)試程序都從校準(zhǔn)接收器開(kāi)始。為此，須將發(fā)生器和接收器用一根3米長(zhǎng)的電纜直接連接在一起，然后向接收器進(jìn)行大功率發(fā)射，再校準(zhǔn)接收器至液晶顯示上出現(xiàn)0dB;用850nm的波長(zhǎng)進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試中得到的衰減最大值，等于光纖衰減即這段波長(zhǎng)的3.5dB/Km，在此之上增加各種連接所產(chǎn)生的衰減(接插件和接頭)。我們認(rèn)為，連接設(shè)備的90%在不超過(guò)850nm時(shí)衰減為0.3dB。 

 

　　本文具體介紹一下由一名測(cè)試人員進(jìn)行測(cè)試的方法。一名測(cè)試人員的測(cè)試要求在最后配線架的不同光纜通過(guò)一些長(zhǎng)度為10米的光纖跳線構(gòu)成回環(huán)，然后一對(duì)一對(duì)檢測(cè)每對(duì)光纖的光芯。發(fā)射器和接收器放在同一地點(diǎn);用一根長(zhǎng)3米的光纖電纜把發(fā)射器連接到光纜頭或光纖屜上的第一根光纖上;用第二根3米長(zhǎng)的光纖電纜將接收器連接到第二根光纖上。 

 

　　先測(cè)量一下回環(huán)情況，然后測(cè)試人員再將接收器連接到第三根光纖上進(jìn)行同樣測(cè)試，以同樣方法測(cè)試第四、第五和第六根光纖。 

 

　　測(cè)試程序是：校準(zhǔn)接收器、裝上跳線電纜、測(cè)量線路并將測(cè)試結(jié)果存入電腦中。校準(zhǔn)時(shí)用一根3米長(zhǎng)的電纜將發(fā)射器和接收器構(gòu)成回環(huán)。應(yīng)當(dāng)向接收器進(jìn)行大功率發(fā)射并校準(zhǔn)接收器至液晶顯示0dB。如果測(cè)試出的值超過(guò)了最大希望值，就應(yīng)當(dāng)借助于光纖反射儀來(lái)確定故障的地點(diǎn)。 

 

　　用反射測(cè)量?jī)x測(cè)量 

 

　　用反射測(cè)量?jī)x測(cè)量，又稱第二級(jí)測(cè)量，其目的是測(cè)看光纖芯的物理狀態(tài)。損耗的分布可以在顯示屏上顯示。 

 

　　測(cè)量原理為：反射測(cè)量?jī)x發(fā)出一個(gè)大功率的校準(zhǔn)光束，然后觀察顯示屏上是否有一個(gè)視覺(jué)看得見(jiàn)的反射功率信號(hào)出現(xiàn)。這一反射是構(gòu)成光纖的硅的不完全性導(dǎo)致的，與直線性衰減相一致。反射信號(hào)的其余部分等于接插部分可能的故障部分的反射。同時(shí)，這些損耗可以被定位并檢測(cè)出光纜的確切長(zhǎng)度。 

 

　　這些測(cè)試可以檢測(cè)出光纖是否處于某個(gè)不正常情況(彎曲半徑，過(guò)分拉拽或擠壓)，也可檢測(cè)出是否有斷線，斷線是否因?yàn)椴僮鞑划?dāng)。同時(shí)也能知道ST接插件是否連接得正確。