收到一條2G/DDR3內(nèi)存，上機測試不定時藍屏。

　　前段時間做了一個AM64 V2.0測試卡，上機測試，能亮機，測試如下圖：

　　按測試結(jié)果，內(nèi)存上的顆粒已經(jīng)貼上標記，接下來開工拆下顆粒。
拖錫，把上面多余的錫珠拖平。

　　開始植錫珠，這過程特別快。

　　上機測試，OK。